• <fieldset id="okuws"><menu id="okuws"></menu></fieldset><fieldset id="okuws"><menu id="okuws"></menu></fieldset>

    

  • <sup id="okuws"></sup>
    <ul id="okuws"></ul>
    <strike id="okuws"><input id="okuws"></input></strike>
    <ul id="okuws"><center id="okuws"></center></ul>
  • 

				
    
			
    
				
			
    
		
    
		
		
		

		
		
    
						
    
				
				
				
				
				
			
    

			
    
				
    
					
					
					
					 
    
						 
    掃描電子顯微鏡(SEM）
    
						 
    
							 
    功能：結(jié)構(gòu)分析
    
							 |
							 
    儀器型號：FEI Quanta 250 FEG
      
							 |
							 
    發(fā)布人：管理員
      
						 
    
						 
    
							 
    
								 
    
									 
									 詳情 details 
								 
    
								 
    
									 

    1、主要用于直接觀察導(dǎo)電、不導(dǎo)電樣品的表面形貌及成分分析。
    

    2、具有可觀察含水樣品的功能，并能在低真空以及更低真空度的條件下能觀察二次電子像，以滿足研究近似原始狀態(tài)下相關(guān)樣品的需求。
    
								 
    
							 
    
							 
    
							 		
    相似推薦